经典型号

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Nicomp 380系列纳米激光粒度仪采用动态光散射原理检测分析样品体系的粒度分布。其主要用于检测纳米级别的体系和其他胶体体系,其粒径检测范围0.3 nm-10μm。Nicomp 380系列对数据的分析不仅仅包括传统的高斯(Gaussian)算法,还使用了专利的Nicomp多峰算法,对于多组分、粒径分布不均匀的分散体系的分析以及胶体体系的稳定性分析具有独特优势,高分辨率的特性遥遥领先于同类产品。Nicomp 380系列纳米激光粒度仪采用优秀的工业模块化设计,可灵活方便地扩展ZETA电位和其他功能,如:专利的自动稀释系统、自动进样系统、在线进样系统、多角度检测系统和各种激光器/检测器。 AccuSizer 780颗粒计数器系列粒度仪采用了先进的SPOS单颗粒技术和带有专利的自动稀释进样模块,能真实地测试出样品尾端大粒子的粒度分布和颗粒个数(浓度),具有超高的分辨率和快速测试能力。最高计数浓度可达到1011个/ml。从而确保测试各种分散体系时数据的稳定性和准确性。单颗粒传感技术(SPOS)填补了常见粒度仪检测技术在检测粒径分布中的重要不足—粒子数量的统计。自AccuSizer 780系列仪器诞生,以往以牺牲精确性和分辨率来换取检测速度和易用的历史一去不复返!测试范围:150 nm – 2500 μm。测试呈现结果:粒度分布(PSD)+ 颗粒数量/ml(颗粒浓度)。粒粒皆清楚,不丢失任何细节。 A7000APS A9000 FXnano-SIS:为纳米级样本提供粒度计数方案 A9000 FXnano-AD A9000 FX-PP A9000 FX-MD

PSS FX-Nano 高浓度计数粒度分析仪
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PSS FX 高浓度计数粒度分析仪
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AccuSizer 780 APS 大乳粒检测仪
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AccuSizer 780 SIS 不溶性微粒检测仪
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Nicomp 380 ZLS 纳米激光粒度仪及ZETA电位分析仪
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Nicomp 380 DLS 纳米激光粒度仪
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